Аппаратно-программный комплекс на основе атомно-силовой микроскопии для неразрушающей диагностики конструкционных материалов
Аппаратно-программный комплекс на основе атомно-силовой микроскопии для неразрушающей диагностики конструкционных материалов
Ранняя диагностика и прогнозирование разрушений материалов и металлоконструкций, работающих в экстремальных условиях, является одной из важнейших проблем в процессе эксплуатации оборудования на предприятиях различных отраслей промышленности и ТЭК.
Снижение эксплуатационных рисков до уровня, который можно признать безаварийным, на сегодняшний день осложняется тем фактом,что используемые методы ранней диагностики состояния материалов способны регистрировать разрушения лишь на тех стадиях, когда эксплуатация оборудования уже является потенциально опасной.
Являясь высокоточным и надежным методом диагностики, атомно-силовая микроскопия (АСМ) позволяет осуществлять упреждающий контроль состояния материалов промышленных объектов и действующего оборудования.
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) обладает целым рядом существенных преимуществ перед другими современными методами диагностики:
СЗМ контроллер и ПО аппаратно-программного комплекса SOLVER Pipe II предоставляют самые широкие возможности в реализации зондовых методик измерений рельефа поверхности исследуемого образца, его наномеханических, химических, магнитных, электрических свойств как начинающим, так и опытным пользователям.
Простота использования и гибкое ПО
Программное обеспечение SOLVER Pipe II оснащено системой автоматической установки параметров и интеллектуальными алгоритмами для быстрого конфигурирования работы во всех продвинутых методиках. Программный пакет обработки и представления результатов измерений обеспечивает высокую информативность и наглядность отображения получаемых данных.
Электрические измерения
SOLVER Pipe II позволяет реализовать широкий спектр различных электрических измерений, таких как электростатическая силовая микроскопия с фазовой, частотной и амплитудной модуляций, Кельвин-зондовая силовая микроскопия с фазовой и амплитудной модуляцией, измерение диэлектрической проницаемости, отображение сопротивления растекания и силовая микроскопия пьезоотклика.
Измерение рельефа
Рельеф поверхности измеряется с помощью контактной, амплитудно-модуляционной, частотно-модуляционной АСМ, а также с использованием инновационной методики HybriD Mode™.
Наномеханика
Одной из дополнительных возможностей SOLVER Pipe II является возможность наномеханических измерений. В частности, SOLVER Pipe II позволяет получать численные значения модуля Юнга с использованием стандартных АСМ кантилеверов.
Исследование магнитных свойств
МСМ измерения SOLVER Pipe II позволяет проводить с использованием двухпроходных методик, построчной и покадровой.
Конструкция прибора и развитое программное обеспечение позволяют получать разнообразные данные и представлять их в форме, удобной для практического использования. Автоматизированный анализ цифровых изображений обеспечивает получение структурных характеристик, в том числе проводить выделение зерен и пор, строить изображения протяженных объектов. Распределение зерён по размерам, состояние и форма границ, анализ распределения возникших в материале пор (по размерам, площади, объемам) позволяет точно оценить состояние материала конструкции и ее пригодность для дальнейшей эксплуатации. Значительное оптическое увеличение позволяет сопоставлять получаемые АСМ-данные с «привычными» оптическими изображениями.
Атомно-силовая микроскопия - контактная, амплитудно-модуляционная, частотно-модуляционная, нерезонансная осцилляционная методика HybriD Mode, Латерально-силовая микроскопия, Силовая модуляционная микроскопия, Отображение сопротивления растекания, Силовая микроскопия пьезоотклика и переключательная спектроскопия, Электростатическая силовая микроскопия, Кельвин-зондовая силовая микроскопия, Магнитно-силовая микроскопия, АСМ спектроскопия, АСМ литография (силовая, токовая, вольтовая).
СЗМ головка | |
Диапазон сканирования | 100×100×7 мкм |
Тип сканирования | зондом |
Габариты | 72×100×102 мм |
Вес | 0,7 кг |
Платформа-позиционер | |
Габариты | 212×350×135 мм |
Вес | 4 кг |
Диапазон перемещения СЗМ головки | 50×50×30 мм |
Точность перемещения | |
по осям X, Y | 1 мкм |
по оси Z | 0.4 мкм |
Видеокамера | |
Разрешение | 640×480 пикселей |
Образец | |
Размер при измерениях на плоскости | не ограничен |
Диаметр цилиндрического образца | от 120 мм |