Атомно-силовой микроскоп для научных исследований, практических применений и образования
Атомно-силовой микроскоп для научных исследований, практических применений и образования
NanoEducator II – это сканирующий зондовый микроскоп, который сочетает в себе простоту, устойчивость к случайным поломкам, низкую стоимость эксплуатации, возможность использовать в образовательном процессе и профессиональный функционал атомно-силового микроскопа.
NanoEducator II может быть использован в различных научных и практических приложениях.
NanoEducator II, несмотря на свою компактность и простоту эксплуатации, поддерживает все базовые методики атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопий, поэтому он может быть использован для любых рутинных АСМ и СТМ измерений и экспериментов в научных исследованиях. Для примера показаны результаты некоторых экспериментов в различных научных приложениях:
В базовой комплектации NanoEducator II включает базовый блок с кантилеверной измерительной АСМ и СТМ головками.
Сканирующий базовый блок
Содержит сканер, устройство позиционирования образца, встроенную USB видеосистему
Кантилеверная АСМ головка
Допускает установку стандартных АСМ зондов
Универсальная СТМ/АСМ головка
Допускает установку сменных вкладышей для СТМ/АСМ проволочных зондов
Эксперименты были проведены на конфигурации NanoEducator II для научных исследований:
Функциональные возможности NanoEducator II существенно увеличиваются за счет использования различных опций.
Если говорить об использовании нанотехнологий в современной промышленности, то это огромный пласт современного производства в различных областях: добыча и переработка полезных ископаемых и другого природного сырья, производство элементов ИТ инфраструктуры, БиоФарм индустрия, машиностроение и многое другое.
Для любого исследования/разработки технологии на атомном масштабе необходимо иметь компетенции в смежных естественно-научных дисциплинах на их пересечении. Как только критические размеры функциональных объектов становятся менее 100 нм, перестает существовать дисциплинарный подход, потому что нельзя описать процессы и явления только на языке физики или только химии или только биологии. И при работе с объектами на атомном уровне между человеком-оператором и предметом исследования/разработки присутствует интерфейс в виде прибора, подключенного к компьютеру. Этот интерфейс выполняет роль «рук и глаз» оператора и он в своей основе использует математический аппарат и информационные технологии. Таким образом, при проведении исследований/разработок в области нанотехнологии в едином междисциплинарном пространстве задействован весь спектр естественнонаучных дисциплин: Физика, Химия, Биология, Математика, Информатика и Робототехника.
Тестовая структура.
Размер скана 70×70 мкм.
АМ АСМ
Индентирование индия.
Размер скана 70×70 мкм.
АМ АСМ
Атомная решетка ВОПГ.
Размер скана 2×2 нм. СТМ
Атомные ступени на графите.
Размер скана 800×800 нм.
АМ АСМ
Использование NanoEducator II с набором методических материалов для внеурочной и самостоятельной деятельности позволяет полностью соответствовать требованиям к организации учебной деятельности в соответствии с ФГОС последнего поколения.
HybriDTM метод АСМ
Контактная АСМ
Метод постоянной высоты
Метод постоянной силы
Отображение сигнала обратной связи
Метод латеральных сил
Отображение сопротивления растекания
Метод модуляции силы
Силовая микроскопия пьезоэлектрического отклика
Амплитудно-модуляционная АСМ,
режимы отталкивания и притяжения
Отображение рельефа
Отображение фазы
Отображение сигнала обратной связи
Электростатическая силовая микроскопия
Сканирующая емкостная силовая микроскопия
Кельвин-зондовая силовая микроскопия
Магнитно-силовая микроскопия
АСМ спектроскопия
Силовая спектроскопия
Отображение адгезионных сил
Амплитудная спектроскопия
Фазовая спектроскопия
Частотная спектроскопия
Резонансная спектроскопия
СТМ методики
Метод постоянного тока
Метод постоянной высоты
Отображение работы выхода
Отображение плотности состояний
I(z) Спектроскопия
I(V) Спектроскопия
Литография
АСМ анодно-окислительная литография
СТМ литография
АСМ литография - гравировка
АСМ литография - чеканка
Основные характеристики:
Сканер: 100x100x12 мкм с датчиками обратной связи, 3x3x3 мкм без датчиков обратной связи
АСМ разрешение: 0.01 нм
Контролируемые условия: Измерения на воздухе и в жидкости
Комбинированные оптические системы: Встроенная 100-кратная оптическая USB система.
Внешняя 500x оптическая система
Конструкция: Настольный микроскоп, дружественный интерфейс и защита от случайных поломок
Сканер:
Поле сканирования: Режим высокого напряжения: 100x100x12 мкм
Режим низкого напряжения: 3x3x3 мкм
Тип сканера: Метрологический пьезокерамический XYZ сканер с сенсорами обратной связи
Тип сенсоров: XYZ – сверхбыстрые емкостные датчики
Шум сенсоров: Низкошумящие XY сенсоры: <0.3 нм
Низкошумящие Z сенсоры: <0.03 нм
Линейность сенсоров: Метрологические XY сенсоры: <0.1%
Метрологические Z сенсоры: <0.1%
Общие параметры сканера: 100x100x12 мкм с сенсорами. 3x3x3 мкм без сенсоров
Разрешение: XY - 0.3 нм, Z – 0.03 нм
Линейность: XY - <0.1%, Z - <0.1%
Разрешение: XY - 0.05 нм, Z – 0.01 нм
Образец:
Диапазон позиционирования: 12 мм
Разрешение позиционирования: 1.5 мкм
Размер образца: до 1,5” X 1,5” X 1/2”, 35x35x12 мм
Вес образца: до 100 г
Алгоритм интеллектуального подвода: Встроен в ПО (гарантированно зонд не касается поверхности при подводе)
Сканирующие головки:
АСМ головка для Si зондов: Доступна в спецификации
Все коммерческие зонды могут быть использованы
Тип детектирования: Лазер-фотодиод
Держатель зонда: Держатель для измерений на воздухе и держатель для измерений в жидкости
Тип установки головки: Кинематическая установка
Точность установки: 150 нм (снять/поставить)
СТМ головка: Доступна в спецификации. Pt|Ir проволока для СТМ измерений
Подвод
Автоматическая процедура подвода к поверхности
Автоматическая процедура интеллектуального подвода к поверхности (гарантированно без контакта иглы и образца)
Ручное управление шаговыми двигателями
Осциллограф сигналов в реальном времени
Сканирование
До 8 сигналов одновременно в одном сканировании
До 8K точек
Автоматическая установка параметров сканирования по одному клику
Удобный ручной выбор поля сканирования, в том числе по видео сигналу
Многопроходные методики
Циклическое сканирование
Временная пауза сканирования
Режим предварительного сканирования
Режим расширенного поля сканирования
Сканирование под углом
Режим сканирования неквадратных площадей
Онлайн 3D вид
Автоматическая PID установка
Особый интерес представляет конфигурация NanoEducator II для применения в образовательных целях – конфигурация NANOEDUCATOR II.
Термостолик
Внешняя видеокамера наблюдения образца
Пассивная виброзащитная система
Учебное пособие для студентов старших курсов ВУЗов