+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Галерея сканов
Материаловедение
Микроструктура на Si подложке
Микроструктура на Si подложке
MDT-file:
Загрузить
AFM image of microstructure on Si wafer
AFM image of microstructure on Si wafer.
size:
25x25 um
SPM principle:
Intermittent contact mode
Композит нанотрубки-полистирол
Монокристаллы уротропина + H2PtCl6
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности