+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Галерея сканов
Полимеры и Тонкие Органические Пленки
F14H20 on Si (1 minute)
F14H20 on Si (1 minute)
PM-KPFM map of F14H20 on Si overlaid over topography
Device:
NTEGRA Aura
Sample Courtesy:
Prof.M.Moeller, DWI (Aachen, Germany)
Image Courtesy:
Dr. Stanislav Leesment
F14H20 on Si (1 minute)
size:
5x5 um
SPM principle:
Kelvin Probe Force Microscopy
sPS-PVDF
PANI HD CAFM
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности