СТМ методики

Генрих Рорер и Герд Бинниг, ученые из исследовательской лаборатории IBM в Цюрихе, Швейцария были награждены в 1986 г. Нобелевской премией по физике за их работу по сканирующей туннельной микроскопии. Бинниг и Рорер были отмечены за разработку мощных методов исследований на основе Сканирующей Туннельной Микроскопии. Они разделили премию с немецким ученым Эрнстом Руска, конструктором первого Электронного Микроскопа.

СТМ способен формировать изображения отдельных атомов на поверхностях металлов, полупроводников и других проводящих образцов путем сканирования образца остроконечной иглой на высоте порядка нескольких атомных диаметров, так что между острием и образцом протекает туннельный ток.

Основными методами СТМ являются методы Постоянного Тока и Постоянной Высоты для получения данных о рельефе, дополняемые Методиками Спектроскопических измерений для получения распределений «работы выхода» («высоты барьера») и «локальной плотности состояний» (ЛПС), I(z) и I(V) кривые отображают химические и электронные свойства поверхности.