+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Теоретические основы СЗМ
Основы работы сканирующего зондового микроскопа
2. Принцип работы АСМ
2.2 Силовое взаимодействие зонда с поверхностью
2.2.4 Сила Ван-дер-Ваальса.
2.2.4 Сила Ван-дер-Ваальса.
2.2.4.1 Межмолекулярная сила Ван-дер-Ваальса
2.2.4.2 Ван-дер-ваальсовское притяжение зонда к образцу
2.2.4.3 Приложения
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности