Публикации

V.I. Povstugar, S.G. Bystrov, S.F. Lomaeva, S.S. Mihaylova. Means fixation of the fine particle for AFM research. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 march 2000, IPN RAS, pp. 337-341.
В.И. Повстугар, С.Г. Быстров, С.Ф. Ломаева, С.С. Михайлова. Способы фиксации высокодисперсных частиц для АСМ -исследований. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 337-341.

В.А. Быков, А.Д. Волков, В.В. Жижимонтов, С.А. Саунин, А.В. Иконников. Перспективы совмещения методов СЗМ и техники спектроскопии для исследований вещества. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 303-307.

V.A. Bykov, V.V. Dremov, V. Losev, S.A. Saunin, G.M. Mihailov. Probes "Whisker type" and magneto-force probes for SPM. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 298-302. В.А. Быков, В.В. Дремов, В. Лосев, С.А. Саунин, Г.М. Михайлов. Зонды "вискерс-типа" и магнитно-силовые зонды для СЗМ. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 298-302.

N.I. Nurgazizov, A.A. Bukharaev, D.V. Ovchinnikov, A.A. Mojanova. Visualization of the physical-chemical processes at the border of the liquid - solid the use of atomic-force microscope. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 40-47.
Н.И. Нургазизов, А.А. Бухараев, Д.В. Овчинников, А.А. Можанова. Визуализация физико-химических процессов на границе жидкость - твердое тело с помощью атомно-силового микроскопа. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 40-47.

A.L. Tolstikhina, A.L. Belugina, U.V Astahova, R.V. Gaynutdinov. AFM research of the fine structure of the surface of the ferroelectric crystal TGS. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 65-69.
А.Л.Толстихина, Н.В.Белугина, Ю.В.Астахова, Р.В.Гайнутдинов. АСМ исследование тонкой структуры поверхности сегнетоэлектрического кристалла ТГС. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 65-69.

S.F. Lomaeva, V.I. Povstugar, S.G. Bystrov, S.S. Mihaylova. AFM research of the nanocrystalline powder on basis of the iron. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 75-79.
С.Ф. Ломаева, В.И. Повстугар, С.Г. Быстров, С.С. Михайлова. АСМ-исследования нанокристаллических порошков на основе железа. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 75-79.

A.M. Dorfman, A.M. Lahovich, V.I. Povstugar, S.G. Bystrov. Research of the plasmohardened inhibited protective coat on the iron the use of scanning probe microscopy and spectroscopy. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 80-84.
А.М. Дорфман, А.М. Ляхович, В.И. Повстугар, С.Г. Быстров. Исследование плазмополимеризованного ингибированного защитного покрытия на железе методом атомной силовой микроскопии и спектроскопии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 80-84.

N.V. Vostokov, S.V. Gaponov, V.L. Mironov, A.I. Panphilov, N.I. Polushkin, N.N. Salachenko, A.A. Fraerman, M.N. Haidl. Finding of the effective surface roughness and angular dependence of the reflectance in the range X-rays by experimental data of the atomoc-force microscopy. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 107-112.
Н.В. Востоков, С.В. Гапонов, В.Л. Миронов, А.И. Панфилов, Н.И. Полушкин, Н.Н. Салащенко, А.А. Фраерман, M.N. Haidl. Определение эффективной шероховатости поверхности и угловой зависимости коэффициента отражения в рентгеновском диапазоне длин волн по данным атомно-силовой микроскопии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 107-112.

R.V. Gaynutdinov, A.I. Vilensky, A.L. Tolstikhina. AFM research of the fine structure of the track in the irradiated high-energy ions Xe films polyethyleneterephthalat. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 187-191.
Р.В. Гайнутдинов, А.И. Виленский, А.Л. Толстихина. АСМ в исследовании тонкой структуры трека в пленках полиэтилентерефталата, облученного высокоэнергетическими ионами Хе. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 187-191.

A.A. Mojanova, N.I. Nurgazizov, A.A. Bukharaev. Study of the liquid etching of the dioxide silicon the use of atomic-force microscope by various temperature. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 207-211.
А.А. Можанова, Н.И. Нургазизов, А.А. Бухараев. Изучение жидкостного травления диоксида кремния с помощью атомно-силового микроскопа при различных температурах. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 207-211.

O.V. Karban, S.G. Bystrov, E.I. Salamatov. Garnet structure features revealed method atomic-force microscopy. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 232-236.
О.В. Карбань, С.Г. Быстров, Е.И. Саламатов. Особенности строения гранатов, выявленные методом атомной силовой микроскопии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 232-236.

V.A. Bykov, S.N. Kacur, B.K. Medvedev, S.A. Saunin, D.U. Sokolov. The mode dynamic force in SPM and results of the research. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 274-278.
В.А. Быков, С.Н. Кацур, Б.К. Медведев, С.А. Саунин, Д.Ю. Соколов. Мода динамических сил в СЗМ и результаты исследования. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 274-278.

A.M. Alekseev, V.A. Bykov, A.I. Buzin, S.A. Saunin. Application of the multimode SPM methods for research of the polymers. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 2000". Nizhni Novgorod, 28 february -5 mart 2000, IPN RAS, pp. 287-291.
А.М. Алексеев, В.А. Быков, А.И. Бузин, С.А. Саунин. Применение методов мультимодовой СЗМ в исследовании полимеров. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 2000". Нижний Новгород, 28 февраля - 2 марта 2000г, ИФН РАН, cтр. 287-291.

A.L. Tolstikhina, N.V. Belugina and S.A. Shikin. AFM characterization of domain structure of ferroelectric TGS crystals on a nanoscale. Ultramicroscopy, Volume 82, Issue 1-4, 2000, pp. 149-152.

I. Kudryashov, A. Gvozdev, V. Zhizhimontov, A. Volkov, E. Vanagas, S. Juodkazis, H. Misawa
Three-dimensional mapping of photoluminescence and Raman spectra.
Proc. 25th Int. Conf. Phys. Semicond., Osaka 2000 (Eds. N.Miura and T.Ando), pp.1751-1752

U.A. Adamov, N.V. Korneev, V.G. Mocerov, V.K. Nevolin. Forming and electric properties of the planar 2D-nonodimension structures. Microsystem technics, 2000, No 1, pp. 13-16.
Ю.А. Адамов, Н.В. Корнеев, В.Г. Мокеров, В.К. Неволин. Форнирование и электрические свойства планарных 2D-наноразмерных структур. Микросистемная техника, 2000, № 1, с. 13-16.

V.A. Bykov. Micromechanics for Scanning Probe Microscopy and nanotechnology. Microsystem technics, 2000, No 1, pp. 21-33.
В.А. Быков. Микромеханика для сканирующей зандовой микроскопии и нанотехнологии. Микросистемная техника, 2000, № 1, с. 21-33.

N.V. Vostokov, S.A. Gusev, I.V. Dolgov, U.N. Drozdov, Z.F. Kracilnik, D.N. Lobanov, L.D. Moldavskay, A.V. Novikov, V.V. Postnikov, D.O. Filatov. Elastic stress and composition of the autogamous nanoislets GeSi on Si (001). Physics and technics semi-conductor, 2000, Volume 34, Issue 1, pp. 8-12.
Н.В. Востоков, С.А. Гусев, И.В. Долгов, Ю.Н. Дроздов, З.Ф. Красильник, Д.Н. Лобанов, Л.Д. Молдавская, А.В. Новиков, В.В. Постников, Д.О. Филатов. Упругие напряжения и состав самоорганизующихся наноостровков GeSi на Si (001). Физика и техника полупроводников, 2000, том 34, вып. 1, стр. 8-12.

R. Maoz, E. Frydman, S. R. Cohen, J. Sagiv. Constructive Nanolithography: Site-Defined Silver Self-Assembly on Nanoelectrochemically Patterned Monolayer Templates. Advanced Materials, Volume 12, Issue 6, 2000, pp. 424-429.