Публикации

V.A. Bykov, V.V. Losev, S.A. Saunin. Capacitive technique of the scanning force microscopy in the recearch of the alloying dopant distribution in the silicon. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 134-140.
В.А. Быков, В.В. Лосев, С.А. Саунин. Емкостная методика сканирующей силовой микроскопии в исследовании распределения легирующей примеси в кремнии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 134-140.

A.K. Vorob'eva, N.V. Vostokov, S.V. Gaponov, E.B. Kluenkov, V.L. Mironov, IPM RAS. Investigation of the heterogeneities in the Y-Ba-Cu-O thin films the use of scanning probe microscopy. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 290-295.
А.К. Воробьев, Н.В. Востоков, С.В. Гапонов, Е.Б. Клюенков, В.Л. Миронов, ИФМ РАН. Исследование неоднородностей в Y-Ba-Cu-O тонких пленках методами сканирующей зондовой микроскопии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 290-295.

V.A. Bykov, B.K. Medvedev, D.U. Sokolov, V.V. Losev, NT-MDT. Multimode Ultra-High Vacuum SPM Solver-UHV. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 320-326.
В.А. Быков, Б.К. Медведев, Д.Ю. Соколов, В.В. Лосев, ЗАО НТ-МТД. Мультимодовый сверхвысоковакуумный СЗМ СОЛВЕР-UHV. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 320-326.

D.V. Klinov, N. Macko, V.V. Demin, A.A. Mankin, Institute of the bioorganic chemistry RAS. Investigation of the bacteriophage FKZ the use of AFM and STM. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 258-262.
Д.В. Клинов, Н. Мацко, В.В. Демин, А.А. Маныкин, Институт биоорганической химии РАН. Исследование бактериофага ФКZ методом АСМ и СТМ. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 March 1999г, ИФН РАН, cтр. 258-262.

V.A. Bykov, A.V. Ikonnikov, S.N. Kacur, S.A. Saunin, NT-MDT. Electronics and software of the NT-MDT universal scanning probe microscopes. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 327-333.
В.А. Быков, А.В. Иконников, С.Н. Кацур, С.А. Саунин, ЗАО НТ-МТД. Электроника и программное обеспечение универсальных сканирующих зондовых микроскопов НТ-МДТ. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 327-333.

A.A. Bukharaev, A.A. Mojanova, N.I. Nurgazizov, D.V. Ovchinnikov, KPTI KSC RAS. Atomic-force microscopy of the nanostructured materials by selective chemical triplication. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 91-97.
А.А. Бухараев, А.А. Можанова, Н.И. Нургазизов, Д.В. Овчинников, КФТИ КНЦ РАН. Атомно силовая микроскопия наноструктурированных материалов при селективном химическом травлении. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 91-97.

D.V. Klinov, T.V. Dobrinina, O.V. Nekrasova, V.G. Korobko, Institute of the bioorganic chemistry RAS. Atomic-force microscopy of the DNA-repressor systems. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 256-257.
Д.В. Клинов, Т.В. Добрынина, О.В. Некрасова, В.Г. Коробко, Институт биоорганической химии РАН. Атомно-силовая микроскопия комплексов ДНК-репрессор. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 256-257.

E.B. Nedurchilov, E.V. Kasatkin, GSC RF NIPCI name of L.I. Karpova. Electrochemical scanning tunneling microscopy and spectroscopy on the Pt- and Ir-electrodes. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 296-301.
Е.Б. Небурчилова, Э.В. Касаткин, ГНЦ РФ НИФХИ им. Л.Я. Карпова. Электрохимическая сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия на Pt- и Ir-электродах. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 296-301.

V. Palyok, A. Mishak, I. Szabo, D.L. Beke, A. Kikineshi. Photoinduced transformations and holographic recording in nanolayered a-Se/As₂S₃ and AsSe/As₂S₃ films. Applied Physics A Materials Science & Processing, Volume 68, Issue 4, pp 489-492.

A.L. Stepanov, D.E. Hole, A.A. Bukharaev, P.D. Townsend and N.I. Nurgazizov, Reduction of the size of the implanted silver nanoparticles in float glass during excimer laser annealing, Applied Surface Science (136) 4 (1998) pp. 298-305

V. Shevyakov, S. Lemeshko, V. Roschin. Conductive SPM probes of base Ti or W refractory compounds. Nanotechnology, 9 (1998) 352-355.

R. V. Lapshin.
Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners.
Review of Scientific Instruments, vol. 69, no. 9, pp. 3268-3276, 1998

V. Bykov, A. Gologanov, V. Shevyakov. Test structure for SPM tip shape deconvolution. Applied Physics A Materials Science & Processing, Abstract Volume 66 Issue 5 (1998) pp 499-502

A.G. Banshchikov, M.V. Baidakova, B.P. Zakharchenya, K. Saito, N.S. Sokolov, S.M. Suturin, M. Tanaka. MBE growth and characterization of ferromagnetic MnAs layers on CaF2:Si(111). Nanostructures: Physics and Technology 97, International and Technology St.Petersburg Russia 23-27 June 1997.

A.A. Bukharaev, D.V. Ovchinnikov, A.A. Bukharaeva. Surface diagnostics using Scanning Probe Mycroscopy (review). Factory laboratory, Recearch of the structure and of the characteristics, Physical methods of the research and of the control, UDK 620.187:539.25, pp. 10-27
А.А. Бухараев, Д.Б. Овчинников, А.А. Бухараева. Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии (обзор). Заводская Лаборатория, Исследование структуры и свойств, Физические методы исследования и контроля, УДК 620.187:539.25, с.10-27.

V.A. Bykov. Langmuir-Blodgett films and nanotechnology. Biosensor & Bioelectronics Vol. 11, No. 9, pp. 923-932, 1996.

V.R. Novak, S.L. Vorob'eva, and I.V. Myagkov. Investigation of Langmuir Films of Fullerene Derivative Resulting by Addition of C60 to Tetracyanoethylene Oxide. Mol .Mat., Vol. 7, pp. 175-178, 1996.

V.A. Fedirko, V.A. Bykov, M.D. Eremtchenko, V.I. Shashkin and V.M. Daniltzev. Characterization of GaAs/GaAlAs MOCVD Superlatice by STM/AFM Technique. Russian Academy of Siences. Abstracts of Invited Lectures and Contributed Papers, St Petersburg, Russia, 24-28 June 1996, pp.. 381-384.

N.V. Belugina, A.L. Tolstihina. Microrelief research of segnetoelectrics TGS and Rb2ZnCl2 crystals surface of using Atomic Force Microscope method. Crystalography, 1996, vol 41, N6, pp. 1072-1076.
Н.В. Булугина, А.Л. Толстихина. Исследование микрорельефа поверхности кристаллов сегнетоэлектриков ТГС и Rb2ZnCl2 методов атомно-силовой микроскопии. Кристаллография, 1996, том 41, №6, с. 1072-1076.

Alexander A. Kamnev, Alexander A. Smekhnov. Spectroscopic study of nickel(II) hydroxide surface modifications induced by a small iron(III) addition. Fresenius Journ. of Analytical Chemistry, 1996, v. 355, N 5-6, p. 710-712.