Публикации

A. Rothschild, S.R. Cohen, R. Tenne. WS₂ nanotubes as tips in scanning probe microscopy. Applied Physics Letters, Volume 75, Number 25, 20 December 1999.

S. Gavrilov, S. Lemeshko, V. Shevyakov, V. Roschin. A study of the self-aligned nanometre scale palladium clusters on silicon formation process. Nanotechnology, 10 (1999) 213-216.

A.V. Ankudinov, A.N. Titkov, T.V. Shubina, S.V. Ivanov, P.S. Kop'ev, H.-J. Lugauer, G. Reuscher, M. Keim, A. Waag, G. Landwehr. Cross-sectional atomic force microscopy of ZnMgSSe- and BeMgZnSe-based laser diodes. Appl.Phys.Lett. 75(17), p.2626 (1999)

D. Sentenac, A. L. Demirel, J. Lub, and W. H. de Jeu*. A New Lamellar Morphology of a Hybrid Amorphous/Liquid Crystalline Block Copolymer Film. Macromolecules 1999, 32(10), 3235-3240

A.V. Ankudinov, V.P. Evtihiev, V.E. Tokranov, V.P. Ulin, A.N. Titkov. Nanorelief of the oxidated surface of the chip grating rotational heterlayers Ga0.7Al0.3As and GaAs. Physics and technics semi-conductor, 1999, Volume 33, Issue 5, pp. 594-597.
А.В. Анкудинов, В.П. Евтихиев, В.Е. Токранов, В.П. Улин, А.Н. Титков. Нанорельеф окисленной поверхности скола решетки чередующихся гетерослоев Ga0.7Al0.3As и GaAs. Физика и техника полупроводников, 1999, том 33, вып. 5, стр. 594-597.

P.A. Arutunov, A.L. Tolstikhina, V.N.Demidov. System of parameters for roughness and microrelief of the surface materials analysisin the scanning probe microscopy. "Factory laboratory. Materials diagnostics.", Volume 9, Issue 65, pp. 27-37.
П.А. Арутюнов, А.Л. Толстихина, В.Н. Демидов. Система параметров для анализа шероховатости и микрорельефа поверхности материалов в сканирующей зондовой микроскопии. "Заводская лаборатория. Диагностика материалов.", №9, том 65, с. 27-37.

I. Grekhov, L. Delimova, I. Liniichuk, A. Lyublinsky, I. Veselovsky, A. Titkov, M. Dunaevsky, V. Sakharov. Growth mode study of ultrathin HTSC YBCO films on YBaCuNbO buffer. Physica C 324 1999 39–46.

A. Kikineshi, V. Palyok, A. Mishak, I.Szabo, D.L.Beke. Surface relief formation at hologram recording in a-Se/As₂S₃ nanolayered films. Functional materials, V.6, No.3, pp. 413-417.

Б. Imre, E. Gontier-Moya, D.L. Beke, I.A. Szabу and G. Erdйlyi. Ostwald ripening of Pd particles on the (1012) surface of sapphire. Surface Science, Vol. 441 (1) (1999) pp. 133-139.

P.A. Arutunov, A.L. Tolstikhina. Atomic force microscopy in the problems of the of the designing devices for micro- and nanoelectronics. Part I. Microelectronics, 1999, Volume 28, Issue 6, pp. 405-414.
П.А. Арутюнов, А.Л. Толстихина. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть I. Микроэлектроника, 1999, том 28, № 6, с. 405-414.

P.A. Arutunov, A.L. Tolstikhina. Atomic force microscopy in the problems of the of the designing devices for micro- and nanoelectronics. Part II. Microelectronics, 1999, Volume 29, Issue 1, pp. 13-22.
П.А. Арутюнов, А.Л. Толстихина. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть II. Микроэлектроника, 1999, том 29, № 1, с. 13-22.

D.V. Klinov, V.V. Prohorov, T. Neretina, V.V. Demin, D.I. Cherniy, E.D. Sverdlov, IBC RAS. Mapping of the DNA the use of atomic-force microscopy. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 145-151.
Д.В. Клинов, В.В. Прохоров, Т. Неретина, В.В. Демин, Д.И. Черный, Е.Д. Свердлов, ИБХ РАН. Картирование ДНК методом атомно-силовой микроскопии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 145-151.

A.A. Bukharaev, A.A. Mojanova, N.I. Nurgazizov, KPTI KSC RAS. Analysis of the in situ photochemical prosesses ot the border liquid - semi-conductor the use of atomic-force microscope. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 85-90.
А.А. Бухараев, А.А. Можанова, Н.И. Нургазизов, КФТИ КНЦ РАН. Изучение in situ фотохимических процессов на границе жидкость-полупроводник с помощью атомно-силового микроскопа. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 85-90.

N.V. Vostokov, D.G. Volgunov, V.F. Driahlushin, A.U. Klinov, V.V. Rogov, P.V. Shashkin, IPM RAS. Research of the metods atomic-force microscopy for creation of the nanosizeable elements. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 190-192.
Н.В. Востоков, Д.Г. Волгунов, В.Ф. Дряхлушин, А.Ю. Климов, В.В. Рогов, П.В.Суходоев, В.И.Шашкин, ИФМ РАН. Разработка методов атомно-силовой микроскопии для создания наноразмерных элементов. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 190-192.

A.A. Bukharaev, D.V. Ovchinnikov, N.I. Nurgazizov, R. Veyzendanger, KPTI KSC RAS. Hysteresis properties of the nanoparticles by experimental data of the magnetic force microscopy. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 mart 1999, IPN RAS, pp. 203-208.
А.А. Бухараев, Д.В. Овчинников, Н.И. Нургазизов, Р. Вейзендангер, КФТИ КНЦ РАН. Гистерезисные свойства наночастиц по данным магнитной силовой микроскопии. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 203-208.

A.L. Tolstikhina, A.L. Belugina, S.A. Shikin, IC RAS. Research of the domain structure of ferroelectric TGS crystals the use of AFM. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 237-242.
А.Л. Толстихина, Н.В. Белугина, С.А. Шикин, ИК РАН. Исследование доменной структуры сегнетоэлектрических кристаллов ТГС методом АСМ. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 237-242.

A.L. Tolstikhina, P.L. Kaushina, N.D. Stepina, V.A. Lapuk, IC RAS. Atomic-force microscopy for research of the thin films of the lysozyme and antibody M. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 243-249.
А.Л. Толстихина, Р.Л. Каюшина, Н.Д. Степина, В.А. Лапук, ИК РАН. Атомно-силовая микроскопия в исследовании тонких пленок лизоцима и иммуноглобулина М. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 March 1999г, ИФН РАН, cтр. 243-249.

A.L. Tolstikhina, P.A. Arutunov, IC RAS. Investigation of the morphology TiO2 films the use of AFM. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 250-255.
А.Л. Толстихина, П.А. Арутюнов, ИК РАН. Исследование морфологии пленок TiO2 методом АСМ. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 250-255.

D.V. Klinov, V.V. Prohorov, V.V. Demin, Institute of the bioorganic chemistry RAS. Formation of the lipidic monolayer by means of the AFM-probe. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 263-269.
Д.В. Клинов, В.В. Прохоров, В.В. Демин, Институт биоорганической химии РАН. Формирование липидного монослоя при помощи АСМ-зонда. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 263-269.

S.L. Visocky, A.S. Djumaliev, M.L. Kac, I.G. Torgashev, U.A. Filimov, A.U. Cipin, R.K. Ifarov, Saratov branch of the IRE RAS. Influence of the roughness of the GaAs (100) substrate on the magnetic properties of the epitaxial Fe films. Materials of the All-Russian conference "Probe microscopy - 1999". Nizhni Novgorod, 10-13 March 1999, IPN RAS, pp. 302-304.
С.Л. Высоцкий, А.С. Джумалиев, М.Л. Кац, И.Г. Торгашев, Ю.А. Филимонов, А.Ю. Цыплин, Р.К. Яфаров, Саратовский филиал ИРЭ РАН. Влияние шероховатости подложки GaAs (100) на магнитные свойства эпитаксиальных пленок Fe. Материалы всероссийского совещания "Зондовая микроскопия - 1999". Нижний Новгород, 10-13 марта 1999г, ИФН РАН, cтр. 302-304.