+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Теоретические основы СЗМ
Основы работы сканирующего зондового микроскопа
2. Принцип работы АСМ
2.6 Латеральные силы взаимодействия зонда и образца
2.6 Латеральные силы взаимодействия зонда и образца
2.6.1 Природа сил трения
2.6.2 Деформации кантилевера под действием латеральных сил
2.6.3 Калибровка оптической системы регистрации
2.6.4 Качественная интерпретация результатов
2.6.5 Эффект прилипания-скольжения в наномасштабе
2.6.6 Эффект прилипания-скольжения в микромасштабе
2.6.7 Приложения
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности